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07.26 無錫丨美國國家儀器NI：沒有好測試，再牛的芯片也上不了市！

        無錫新吳區菱湖大道200號中國傳感網國際創新園F11棟創星咖啡(景賢路)

主辦方： 美國國家儀器

引言：

測試是IC設計的重要環節，精確的測試結果，快速的Debug方法，直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準備了一系列芯片測試的新玩法，帶你玩轉IC測試。

Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奮斗在設計一線，不斷的設計出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來，高強度的測試任務，對于測試工程師及IC設計師來講，都是最為心情跌宕起伏的時刻：仿真很“豐滿”，測試很“骨感”。

1.平臺化方法降低IC測試成本及上市時間：

隨著IC集成度日益提高，行業整合和全球競爭的加劇，IC工程師面臨著巨大的開發成本和上市時間的壓力。 不幸的是，實驗室和量產測試中的ATE系統使用傳統儀器的方法不能進行擴展滿足到當今IC產業不斷變化的需求，在成本和上市時間上帶來商業風險。 在本演講中，我們將介紹基于平臺的方法是如何提升IC驗證分析速度和測試設備性能，滿足制造成本和可靠性的需求。

2.從實驗室到量產——NI RFIC測試方案：

在此演講中，將探討基于PXI平臺和矢量信號收發儀VST，您可以輕松應對當前復雜且技術更新很快的RFIC測試，以及NI平臺如何打通從實驗室到量產測試的RFIC測試方案。

3.解讀構建SLT(System Level Test)的新軟件架構：

隨著IC集成度的巨大提升，SiP等的封裝形式的出現也讓測試變得越來越困難。在本演講中，我們講討論SLT測試的趨勢和方法，并且如何用平臺化方法構建SLT測試系統。

4.降低測試成本新方法——物聯網藍牙芯片產測解決之道：

在物聯網時代，無線網絡的要求不斷推進無線標準的發展。事實上，低延遲、低功耗、高可靠性的技術要求最終推動了未來無線技術的發展方向。在本演講中，我們將探討最新興的無線技術對IoT，移動和基礎設施的設計和測試的影響，并且以低功耗藍牙芯片量產測試為例，討論針對應用于物聯網芯片如何在量產測試中降低測試成本。

*議題根據地區調整

內容資源：

NI的平臺化方法下，最大化利用統一的平臺提升實驗室和量產測試的數據關聯，打通從實驗室到量產測試的鴻溝！降低測試成本，加快上市時間，將不再是難題！

在統一的平臺下，NI模塊化的儀器和開放靈活的軟件是一切的基石，極廣的信號覆蓋（從DC到毫米波），頂級的射頻及混合信號儀器，天然的并行測試特性，這樣的高性能平臺已經為全球范圍內多家客戶帶來了福祉。

而NI為量產測試而打造的STS（半導體測試系統），對接行業標準，為量產測試添磚加瓦提升測試速度！

-芯片設計工程師及部門主管

-芯片測試工程師及部門主管

-Verification 及 Qualification 部門工程師

-其他IC業內人士

歡迎您的到來！

活動主辦方：美國國家儀器

美國國家儀器，世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發到量產的全產業鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產業鏈測試與仿真需求。在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇，在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經驗和專業知識。