
引言:
測試是IC設計的重要環節,精確的測試結果,快速的Debug方法,直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準備了一系列芯片測試的新玩法,帶你玩轉IC測試。
Digital IC、Analog IC、RF IC, 各位IC designer奮斗在設計一線,不斷的設計出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來,高強度的測試任務,對于測試工程師及IC設計師來講,都是最為心情跌宕起伏的時刻:仿真很“豐滿”,測試很“骨感”。
嘉賓介紹:
*陳宇睿 NI中國自動化測試產品市場經理
(另有更多嘉賓將陸續公布)
1.NI半導體解決方案介紹:
a)從研發驗證到量產,覆蓋整個半導體開發流程的測試驗證
b)靈活的NI PXI平臺,可以快速實現實驗室的自動化測試及特性分析
c)基于PXI平臺的STS系統,可以幫助產線測試降低成本,提升靈活性,復用前期研發及特性分析的IP,加速產品上市。
2.實驗室測試自動化平臺案例分析:
a)基于NI PXI平臺,全球范圍內組建了Validation中心,并且組織專業團隊進行二次開發,從而使用同一套系統快速實現芯片的參數測試,功能測試以及系統級測試。
3.基于NI PXI搭建混合信號測試系統(暫定):
a)PXI平臺上具有2000+模塊化儀器,其多樣性可以實現復雜的混合型號測試。
4.NI RFIC測試解決方案(暫定):
a)基于PXI平臺和矢量信號收發儀VST,您可以輕松應對當前復雜且技術更新很快的RFIC測試。
-芯片設計工程師及部門主管
-芯片測試工程師及部門主管
-Verification 及 Qualification 部門工程師
-其他IC業內人士
歡迎您的到來!
活動主辦方:美國國家儀器
美國國家儀器,世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件,如LabVIEW,AWR,以及高性價比的模塊化硬件,覆蓋IC從研發到量產的全產業鏈測試與仿真需求。40多年來,美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰,提供大量的軟件,硬件,覆蓋IC全產業鏈測試與仿真需求。在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今,NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇,在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經驗和專業知識。
特別鳴謝協辦單位:
活動支持:
【時間】:2016年8月30日,13:30--17:00
【地點】:無錫濱湖區高浪路19號希爾頓逸林酒店三樓靈鴻廳(近錫士路),(注:8月30日活動茶歇在三樓廊廳,茶歇時間為15:00--15:30)
【費用】:免費(提供茶歇)
另外我們在以下3地也會有同樣的沙龍。
深圳站【時間】:2016年8月23日,13:30--17:00
【地點】:深圳市南山區深南路9028號-2,深圳益田威斯汀酒店四樓會議室7&8
【費用】:免費(提供茶歇)
【報名】:http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
蘇州站【時間】:2016年8月31日,13:30--17:00
【地點】:蘇州洲際酒店2樓會議室1(吳中區 金雞湖畔旺墩路288號 ,近右岸街)
【費用】:免費(提供茶歇)
【報名】:http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzA=
杭州站【時間】:2016年9月8日
【地點】:待定
【費用】:免費(提供茶歇)
注:活動限半導體行業相關工作人員參加(限額80人),因主辦方將進行人員篩選,請認真填寫報名信息,信息填寫不完整及行業屬性不相關者,不在邀請范圍內,請悉知。入場請出示通知短信并攜帶名片。
引言:
測試是IC設計的重要環節,精確的測試結果,快速的Debug方法,直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準備了一系列芯片測試的新玩法,帶你玩轉IC測試。
Digital IC、Analog IC、RF IC, 各位IC designer奮斗在設計一線,不斷的設計出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來,高強度的測試任務,對于測試工程師及IC設計師來講,都是最為心情跌宕起伏的時刻:仿真很“豐滿”,測試很“骨感”。
嘉賓介紹:
*陳宇睿 NI中國自動化測試產品市場經理
(另有更多嘉賓將陸續公布)
1.NI半導體解決方案介紹:
a)從研發驗證到量產,覆蓋整個半導體開發流程的測試驗證
b)靈活的NI PXI平臺,可以快速實現實驗室的自動化測試及特性分析
c)基于PXI平臺的STS系統,可以幫助產線測試降低成本,提升靈活性,復用前期研發及特性分析的IP,加速產品上市。
2.實驗室測試自動化平臺案例分析:
a)基于NI PXI平臺,全球范圍內組建了Validation中心,并且組織專業團隊進行二次開發,從而使用同一套系統快速實現芯片的參數測試,功能測試以及系統級測試。
3.基于NI PXI搭建混合信號測試系統(暫定):
a)PXI平臺上具有2000+模塊化儀器,其多樣性可以實現復雜的混合型號測試。
4.NI RFIC測試解決方案(暫定):
a)基于PXI平臺和矢量信號收發儀VST,您可以輕松應對當前復雜且技術更新很快的RFIC測試。
-芯片設計工程師及部門主管
-芯片測試工程師及部門主管
-Verification 及 Qualification 部門工程師
-其他IC業內人士
歡迎您的到來!
活動主辦方:美國國家儀器
美國國家儀器,世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件,如LabVIEW,AWR,以及高性價比的模塊化硬件,覆蓋IC從研發到量產的全產業鏈測試與仿真需求。40多年來,美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰,提供大量的軟件,硬件,覆蓋IC全產業鏈測試與仿真需求。在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今,NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇,在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經驗和專業知識。
特別鳴謝協辦單位:
活動支持:
【時間】:2016年8月30日,13:30--17:00
【地點】:無錫濱湖區高浪路19號希爾頓逸林酒店三樓靈鴻廳(近錫士路),(注:8月30日活動茶歇在三樓廊廳,茶歇時間為15:00--15:30)
【費用】:免費(提供茶歇)
另外我們在以下3地也會有同樣的沙龍。
深圳站【時間】:2016年8月23日,13:30--17:00
【地點】:深圳市南山區深南路9028號-2,深圳益田威斯汀酒店四樓會議室7&8
【費用】:免費(提供茶歇)
【報名】:http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
蘇州站【時間】:2016年8月31日,13:30--17:00
【地點】:蘇州洲際酒店2樓會議室1(吳中區 金雞湖畔旺墩路288號 ,近右岸街)
【費用】:免費(提供茶歇)
【報名】:http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzA=
杭州站【時間】:2016年9月8日
【地點】:待定
【費用】:免費(提供茶歇)
注:活動限半導體行業相關工作人員參加(限額80人),因主辦方將進行人員篩選,請認真填寫報名信息,信息填寫不完整及行業屬性不相關者,不在邀請范圍內,請悉知。入場請出示通知短信并攜帶名片。