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導讀：

隨著移動終端出貨量的快速擴張，其中的射頻功率器件市場不斷更新布局，提高PA效率和線性度的需求推動了新測量技術的出現，也使得PA特征化的復雜度日益提高。

在這個研討會中，我們將介紹現代蜂窩手機功率放大器的三個重要測試需求和挑戰，包括：數字預算失真(DPD)、包絡跟蹤特性化(ET)和負載牽引(Load pull)。DPD可在輸出功率較高時有效線性化功率放大器(PA)，并增大PA滿足特定標準傳輸需求的可能性，以提高調制質量和頻譜純度。包絡跟蹤的目的是通過動態改變功放的效率曲線來提高高PAPR波形的效率。最后，負載牽引可幫助工程師通過找到功率晶體管的最優輸入和輸出阻抗來提高功放的整體效率。

Topics:

NI射頻集成電路測試技術及應用概覽

PA工程師必須了解的三種技術—數字預失真，包絡跟蹤以及負載牽引

NI全新矢量信號收發儀(VST 2.0)技術及應用揭秘

客戶案例分析

應用演示：

DPD on 802.11ac

802.11ax Loopback

LTE WLAN Co-existence?

FPGA Mod/Demod Example

Real-time spectrum monitoring

★  演講嘉賓：

Brian Glass, Senior Product Marketing Manager for RFIC

Yi Han, DSM

Fangze Tu, Senior Application Engineer

★  活動主辦方：美國國家儀器

美國國家儀器，世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發到量產的全產業鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發布過程中所遇到的種種挑戰，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產業鏈測試與仿真需求。在縮短產品問世時間的同時有效降低開發成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇，在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經驗和專業知識。

時間地點

【時間】：2016年8月29日，13:30--17:00

【地點】：上海浦東新區碧波路635號傳奇廣場3樓IC咖啡，近地鐵2號線張江高科站5號口（祖沖之路松濤路）

【路線】：地鐵2號線5號口出，穿過“黑暗料理小吃”，傳奇廣場坐電梯到3樓即達（交通銀行和中國銀行之間）；自駕，松濤路路口進，1樓三和面館旁電梯上

【費用】：免費

【報名】：點擊下方"閱讀原文"即可參與報名。

活動主辦：

聯合主辦：

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