開關電源比較容易壞的元器件大討論
大家來說說開關電源比較容易壞的原件是什么?比如二極管,MOS管等等
開關電源比較容易壞的元器件大討論
大家來說說開關電源比較容易壞的原件是什么?比如二極管,MOS管等等
雷擊波感應,電網中的浪涌電壓比較容易死的是Fuse與Photo (如果已經量產沒有設計的話),我的不良分析經驗中MOSFET有Repetitive avalanche energy檔著,而設計時IC都經過周圍電路收掉,只有開發過程中半導體才容易死
量產后若是環境因素造成的不良多半也是電解電容烤干了壽命結束
只有設計不良造成退貨才會遇到半導體器件死亡案例
林兄此言差矣
從理論上來說,電源設計時考慮到各種極端情況對電路的損害,加入各種保護電路,調整電路的頻響與帶寬,并采取補償措施,再加之各種嚴酷條件下的測試胡老化,可以獲得性能上極其可靠的產品。
但實際的產品并不是這樣。首先元器件的一致性是個突出的問題,就目前的生產技術來說,任何廠家都不能保證產品的性能達到完全一致。
其次,生產工藝與過程的控制,有時哪怕是一個小小的錫珠或者松香,都有可能導致這個電源的損壞,從概率上來說,首當其沖的是半導體元件。
再次,用戶的誤操作原因。
最后,還有一些不可預知的惡劣環境與其他的因素。
舉個實例,懷格電源在世界上有首屈一指的品質保證,很多國家的航空航天,甚至導彈上都是使用懷格的電源,這說明他的可靠性是非常有保證的
但是,還是有些懷格電源在使用中損壞,難道說這個電源在設計上有缺陷?或者干脆說設計不良?當然損壞的因素有很多,像林兄說的電解失效也應該是其中一種罷了。
臺達電源交Micro soft XBOX遊戲機電源因為機種交很久了,但去年交給個菜鳥RD做延伸設計,使用ST的L6562設計,出問題也不表示臺達品質差,但是當時Micro soft不但禁用臺達就連光寶同型款因為也是L6562架構,也遭波及
我當時用6Pin IC幫群光電能(高效)電能做到180W給XBOX用,就因為此事而讓客戶得到大單.一直到今天也沒看到不良客訴
這只表示您的舉例與這案例同是一些特殊個案
而我會說電解容易壞只是因為累積的經驗是如此,而別人的經驗我相當尊重,只能說每個人功力不同,所抓餘度有些差異吧.就算我這老頭子頑固,無法認同半導體比電解容易壞