場效應管和快恢復二極管迅速升溫求助
本人用9910B做了一個光耦隔離的驅動,5分鐘內場效應管(型號:4N60)以及快恢復二極管溫度升到70多度,請問應該怎么辦?
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@linami
電感用過3mH,10mH,還是沒有解決問題.
專業電源元器件配套服務商
PC817 EL817 TL431 IN4148 FR107
MOS管:(仙童 英飛凌原裝正品)
FQPF5N60C FQPF8N60C FQPF10N60C FQPF12N60C
SPA11N60C3 SPP17N80C3 SPP20N60C3 SPW47N60C3
橋堆:(SEP臺灣江虹)
MB6S DB107 KBP206 KBP307 KBL406 GBJ2510 KBPC3510
肖特基二極管:(光寶、安森美)
SR3200 SR5200 MBR10200CT MBR20200CT
MBR10100CT MBR20100CT MBR30100PT MBR60100PT
快恢復二極管:(飛利浦 仙童 安森美)
BYQ28E-200 BYQ30E-200 BYV32E-200
MUR460 MUR860G MUR1060CT MUR1640CT MUR3060PT
晶典科技 Mob:18925268405 QQ:530130510劉R
深圳市福田振興路95號 庫存查詢: www.china-jingdian.com
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快恢復二極管:(飛利浦 仙童 安森美)
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看你電路結構應該是BUCK降壓型,頻率應該在80K左右,我不清楚你驅動功率是多大,但是,不過輸入電流峰值應該不會超過1A,雖然4N60的RDS只有2.5Ω,但是Qg很高,超過15nC,在超過60K的頻率下,MOSFET損耗很厲害,所以發熱嚴重,1N60雖然RDS有11Ω,但是Qg很小,只有5nC,開關損耗會小很多,建議你試試,2N60也可以,Qg有9nC,Rds 3.5Ω.如果不想換MOSFET那就把頻率降到45K左右吧.
很多人使用MOSFET都只關心Rds,其實對于高頻,Qg是個很重要的參數,Qg越大高頻損耗越大
快恢復管發熱也是因為MOSFET損耗太大,開關波形畸變的原因,先把MOSFET換了再說.160的恢復時間足夠了
很多人使用MOSFET都只關心Rds,其實對于高頻,Qg是個很重要的參數,Qg越大高頻損耗越大
快恢復管發熱也是因為MOSFET損耗太大,開關波形畸變的原因,先把MOSFET換了再說.160的恢復時間足夠了
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@banma2001
看你電路結構應該是BUCK降壓型,頻率應該在80K左右,我不清楚你驅動功率是多大,但是,不過輸入電流峰值應該不會超過1A,雖然4N60的RDS只有2.5Ω,但是Qg很高,超過15nC,在超過60K的頻率下,MOSFET損耗很厲害,所以發熱嚴重,1N60雖然RDS有11Ω,但是Qg很小,只有5nC,開關損耗會小很多,建議你試試,2N60也可以,Qg有9nC,Rds3.5Ω.如果不想換MOSFET那就把頻率降到45K左右吧.很多人使用MOSFET都只關心Rds,其實對于高頻,Qg是個很重要的參數,Qg越大高頻損耗越大快恢復管發熱也是因為MOSFET損耗太大,開關波形畸變的原因,先把MOSFET換了再說.160的恢復時間足夠了
謝謝大師的解答.現在還有一個問題,我把頻率降到58K,同時MOS管也換成了2N60,結果負載只有微弱地向征性的一點光,請問又是什么問題呢?我的上標輸出是400毫安30V.
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@banma2001
看你電路結構應該是BUCK降壓型,頻率應該在80K左右,我不清楚你驅動功率是多大,但是,不過輸入電流峰值應該不會超過1A,雖然4N60的RDS只有2.5Ω,但是Qg很高,超過15nC,在超過60K的頻率下,MOSFET損耗很厲害,所以發熱嚴重,1N60雖然RDS有11Ω,但是Qg很小,只有5nC,開關損耗會小很多,建議你試試,2N60也可以,Qg有9nC,Rds3.5Ω.如果不想換MOSFET那就把頻率降到45K左右吧.很多人使用MOSFET都只關心Rds,其實對于高頻,Qg是個很重要的參數,Qg越大高頻損耗越大快恢復管發熱也是因為MOSFET損耗太大,開關波形畸變的原因,先把MOSFET換了再說.160的恢復時間足夠了
請問RDS和QG,哪個對熱量及損耗的影響更大呢?
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@linami
請問RDS和QG,哪個對熱量及損耗的影響更大呢?
降壓電路,你可以看MOS的漏極上的波形,RDS帶來的損耗主要是P=RDS*IRMS^2*占空比D,因為MOS截止時,RDS不會帶來損耗.假設RDS是10Ω,平均電流IRMS就是LED電流0.35A,220V輸入,50V輸出,占空比也就23%不到.RDS帶來的損耗10*0.35^2*0.23=0.28W.
開關損耗的算法我知道的有2種,一種是P=總電荷Qg*門極電壓Vg*頻率Fs*系數K(記不得有沒有這么個系數了);一種P=反向傳輸電容C*門極電壓Vg*頻率Fs/處于臨界導通時的門極電流I.
高頻開關下通常是剛上電時開關損耗太大,導致MOS結溫迅速上升,RDS也隨溫度上升而變大,有時因為占空比太高,導致溫升到一定程度RDS的導通損耗超過了開關損耗.
開關損耗的算法我知道的有2種,一種是P=總電荷Qg*門極電壓Vg*頻率Fs*系數K(記不得有沒有這么個系數了);一種P=反向傳輸電容C*門極電壓Vg*頻率Fs/處于臨界導通時的門極電流I.
高頻開關下通常是剛上電時開關損耗太大,導致MOS結溫迅速上升,RDS也隨溫度上升而變大,有時因為占空比太高,導致溫升到一定程度RDS的導通損耗超過了開關損耗.
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@banma2001
降壓電路,你可以看MOS的漏極上的波形,RDS帶來的損耗主要是P=RDS*IRMS^2*占空比D,因為MOS截止時,RDS不會帶來損耗.假設RDS是10Ω,平均電流IRMS就是LED電流0.35A,220V輸入,50V輸出,占空比也就23%不到.RDS帶來的損耗10*0.35^2*0.23=0.28W.開關損耗的算法我知道的有2種,一種是P=總電荷Qg*門極電壓Vg*頻率Fs*系數K(記不得有沒有這么個系數了);一種P=反向傳輸電容C*門極電壓Vg*頻率Fs/處于臨界導通時的門極電流I.高頻開關下通常是剛上電時開關損耗太大,導致MOS結溫迅速上升,RDS也隨溫度上升而變大,有時因為占空比太高,導致溫升到一定程度RDS的導通損耗超過了開關損耗.
試試我們的COOLMOS:SPP04N60C3&SPD04N60C3,RDS(ON)只有其它MOS的一半大,更好地降低整機損耗.
如果您對我們的MOS感興趣,請直接聯系我:15013851891 吳生
深圳市銘城光華科技有限公司
http:www.mamsung.com
518961245397984.pdf
如果您對我們的MOS感興趣,請直接聯系我:15013851891 吳生
深圳市銘城光華科技有限公司
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@linami
Qg太大了.
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橋堆:(SEP臺灣江虹)
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電源IC(昂寶):
OB2263 OB2268 OB2269 OB2252
肖特基二極管:(光寶、安森美)
SR360 SR560 SR3200 SR5200 MBR10200CT MBR20200CT
MBR10100CT MBR2060CT MBR30100PT MBR6045PT
MBR10100CT MBR20100CT MBR30100PT MBR60100PT
快恢復二極管:(飛利浦 仙童 安森美)
BYQ28E-200 BYQ30E-200 BYV32E-200
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肖特基二極管:(光寶、安森美)
SR360 SR560 SR3200 SR5200 MBR10200CT MBR20200CT
MBR10100CT MBR2060CT MBR30100PT MBR6045PT
MBR10100CT MBR20100CT MBR30100PT MBR60100PT
快恢復二極管:(飛利浦 仙童 安森美)
BYQ28E-200 BYQ30E-200 BYV32E-200
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