看下不良的IC和良品IC的輸入欠壓點UVLD是否有點差異。

不換IC，更換Isense電阻試試是否有區(qū)別。

回師長:

,不知道會不會有影響?

其他環(huán)節(jié)應(yīng)該就是正常的PCBA夾具的功能測試.

暫時的估計應(yīng)該是UVLO的影響。對策的話，VCC的電容，和輔助繞組，繞組的二極管什么的都可以測一下。

可能設(shè)計的時候這幾個參數(shù)有點邊緣了。

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沒這么神，只看到第一個啟動了，第二個不斷的重啟。

生產(chǎn)和測試容易損壞貼片電容，對IC的影響一般是產(chǎn)線的是ESD和測試的高壓脈沖。

可以試著把環(huán)路那邊的調(diào)整下，或者把軟啟動時間減小看看是否有效果。

多謝指點